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高性能X射線熒光分析儀既可用于材料的組成成分分析,也適用于固體粉末、晶體、薄膜、液體等樣品的分析。根據樣品分別選配石英池（液體樣品）或固體樣品架（粉末或片狀樣品）。儀器主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。高性能X射線熒光分析儀具有強大的...

薄膜厚度測量儀又稱為覆層測厚儀，原理以及應用如下：一、薄膜厚度測量儀原理磁性測厚原理：當測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。渦流測厚原理：利用高頻交電...

實驗室的工作追求的是性，可是環(huán)境振動源的影響很容易成為一個問題，一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法獲得的實驗數據。主動式減震系統(tǒng)就是為了解決這一問題產生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水平、穩(wěn)定的臺面。實驗或測量不受振動因素。...

XRF鍍層測厚儀結構新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機電一體結構，整機運轉平穩(wěn)，無振動，操作簡單，實驗速度快，降低勞動強度。它是一種對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。...

光學表面輪廓儀利用激光檢測技術的基本原理，在型材的一道工序代替人工檢測，鋼材表面缺陷檢測系統(tǒng)不僅可以實時對鋼材表面缺陷檢測，還能提供數據庫管理缺陷以及鋼板其他信息，為管理人員提供方便的數據統(tǒng)計及存儲查詢等功能，輔助進行鋼材質量管理工作。輪廓...

盤點光學膜厚測量儀的八個功能光學膜厚測量儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上...