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哪些因素會影響薄膜厚度測量儀的性呢?
2021-9-25
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薄膜厚度測量儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn),是控制和產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。1、薄膜厚度測量儀基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使...
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手持式合金分析儀優(yōu)勢體現(xiàn)在三個方面
2021-8-27
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手持合金分析儀廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、安全防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應(yīng)用情景中,合金號鑒別、金屬成分快速分析,解決工業(yè)化基礎(chǔ)的原材料分析難題,手持合金分析儀集成了的科研創(chuàng)新,是生產(chǎn)過程中對金屬材料進(jìn)行識別的有力工具。同時用戶可根據(jù)自身需求,打造專屬個性化分析系統(tǒng)。手持式合金分析儀屬于X射線熒光分析儀,合金分析儀以它的高速運(yùn)轉(zhuǎn)的性能和的電子設(shè)備,為我們保持樣品激發(fā)的度和簡單發(fā)射的按鈕,當(dāng)我們在一個很惡劣的自然環(huán)境需要用到合金分析儀的時候,它并不會受到外界的干擾,它能夠...
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3D光學(xué)輪廓儀可以測量很多種材料參數(shù)
2021-6-23
706
3D光學(xué)輪廓儀對各種產(chǎn)品,部件和材料的表面輪廓,粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。一句話概括就是超光滑表面(納米級)微觀形態(tài)的量度。傳統(tǒng)的機(jī)械零件由于受加工設(shè)備的限制,對精度包括平面度,粗糙度的要求常規(guī)下停留在微米量級。但隨著技術(shù)發(fā)展,人們對機(jī)械零件的加工精度要求開始向納米量級邁進(jìn),設(shè)備加工精度的提高帶動檢測技術(shù)的發(fā)展,傳統(tǒng)的檢測手段包括接觸式和2D方式的檢測方法對檢測納米量級精度的...
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手持式合金分析儀在對合金材料鑒別領(lǐng)域的應(yīng)用說明
2021-5-24
601
手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素。發(fā)射的x射線和返回的x射線都是低功率的,測量時必須使手持式合金分析儀接近樣品。理想的是使樣品進(jìn)行直接通過接...
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高性能X射線熒光分析儀主要有以下幾個特點(diǎn)
2021-4-23
632
高性能X射線熒光分析儀采用良好的硅SIPIN探測器(分辨率為150ev),實現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管,大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距,從而在較低的電壓下達(dá)到同樣的激發(fā)效率,同時減少了漫射光的干擾,大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的性,重復(fù)性。高性能X射線熒光分析儀主要有以下幾個特點(diǎn):1、在測定微量成分時,由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X...
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手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)
2021-1-25
706
手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制(QA/QC)是*的,混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗、成品復(fù)檢的儀器。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素,同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素...